Зворотній дзвінок
Відліковий мікроскоп МОМ-20 з мікрометричним підведенням для вимірювання відбитків на металах. Збільшення 20х, шкала 0,01 мм, точність і надійність МІКРОТЕХ.
Стан: Новий товар
Мікроскоп МОМ-20 — це точний відліковий інструмент для дослідження відбитків на металах, оснащений збільшенням 20х і мікрометричною подачею для високої точності вимірювань. Ідеально підходить для матеріалознавчих лабораторій та контролю твердості.
МІКРОТЕХ представляє відліковий мікроскоп МОМ-20, створений для аналізу відбитків після випробувань твердомірів. Завдяки точній шкалі з ціною поділки 0,01 мм та плавному мікрометричному механізму підведення, мікроскоп дозволяє проводити вимірювання з високою повторюваністю.
Прилад широко застосовується:
— у матеріалознавстві;
— при роботі з твердомірами Брінелля (портативними та стаціонарними);
— у виробничому та лабораторному контролі металів.
МОМ-20 має переваги над аналогом МПБ-2:
• краща дискретність шкали,
• наявність мікрометричної подачі,
• підвищена зручність фокусування.
Всі мікроскопи МІКРОТЕХ проходять юстування та перевірку на точність у власній лабораторії.
Гарантія — 12 місяців.
Відліковий мікроскоп МОМ-20 з мікрометричним підведенням для вимірювання відбитків на металах. Збільшення 20х, шкала 0,01 мм, точність і надійність МІКРОТЕХ.
check_circle
check_circle