Мікроскоп вимірювальний HITEC QZW1 M

Артикул: 4246230
Бренд: HITEC (Німеччина)
Стан: Новий товар

HITEC QZW1 M — це модернізована версія лінійки QZW1, обладнана моторизованою віссю Z для точних вертикальних переміщень і автоматизованого фокусування. Ідеально підходить для лабораторного та виробничого метрологічного контролю.

Опис

Модель QZW1 M доступна з робочими столами:
100×100 мм, 200×100 мм, 250×170 мм, 400×250 мм,
що дозволяє адаптувати систему під дрібні та великогабаритні деталі.

Моторизована Z-координата з діапазоном ходу 150 або 300 мм суттєво підсилює функціональність — оператор отримує плавне, контрольоване та повторюване переміщення, особливо важливе для складних контурів, крихких матеріалів та глибоких точок фокусування.

HITEC QZW1 M підходить для:
• вимірювання гнучких і твердих компонентів
• контролю геометрії отворів, ліній, ребер, перетинів
• роботи з друкованими платами та дрібними пластмасовими елементами
• виробничого контролю за ISO/DIN

Переваги HITEC QZW1 M

• моторизований Z-привід для стабільної та високоточної вертикальної роботи
• розширений діапазон збільшень 8–40×
• преміальна оптика з високою контрастністю
• плавний безступінчастий зум
• ергономічне фокусування з обох боків (правша/лівша)
• V-подібна нахилена голівка 45°
• LED кільцеве та LED проходяче підсвічування
• монолітна гранітна основа для максимальної жорсткості
• прецизійний XY-стіл з точними направляючими
• інкрементні оптичні лінійки з високою надійністю
• програмне забезпечення M2 з вимірюванням 2D-елементів, допусками ISO, найкращими посадками
• Teach-In — створення напівавтоматичних програм
• автоматичний запис, архівація та експорт результатів
• ПК 15,6", SSD 120 ГБ, RS232, USB 3.1

МІКРОТЕХ — офіційний дилер HITEC в Україні.
Гарантія: 1 рік + сервіс і калібрування.